JEOL Ltd. (TOKYO:6951) (Presidente e Ceo: Izumi Oi) annuncia il lancio del sistema FIB-SEM “JIB-PS500i”, avvenuto il 1º febbraio 2023.

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FIB-SEM System "PS500i" (Photo: Business Wire)

A causa della struttura più fine di diversi materiali avanzati e della complessità crescente dei processi, varie tecniche di valutazione quali l’analisi elementale e l’osservazione morfologica richiedono risoluzione e precisione maggiori. Quando si preparano campioni per il microscopio elettronico a trasmissione (TEM), sia nel settore dei semiconduttori sia nei campi delle batterie e dei materiali, sono necessari “precisione superiore” e “campioni più sottili”.
Questo prodotto risulta dalla combinazione di un sistema a fascio ionico focalizzato (FIB, Focused Ion Beam) che permette di eseguire analisi con elevata precisione e di un microscopio elettronico a scansione (SEM, Scanning Electron Microscope) ad alta risoluzione, per soddisfare queste esigenze.

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